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Il laboratorio SMaC-Lab (Spectroscopy and Material Characterization Laboratory) di INAF-OAPA consiste della seguente strumentazione:

• Spettrofotometro a doppio raggio lambda1050+ di PerkinElmer: il lambda1050+ permette di acquisire misure di trasmissione nell’intervallo 190-3300 nm e di lavorare con una sfera integratrice (diametro interno 100 mm) in Spectralon tra 250-2500 nm per misurare sia trasmissione che riflettività. Lo strumento lavora a temperatura e pressione ambiente. Nel range del visibile si possono raggiungere 7-8 O.D. (Optical Depth) utilizzando degli attenuatori (disponibili sia sul fascio di riferimento che sul fascio che incide sul campione) presenti nel sistema il cui utilizzo è gestito via software. Sono in dotazione a corredo dello strumento un riferimento di Spectralon e degli specchietti di alluminio di riferimento per le misure di riflettività. La camera campione per le misure di trasmissione è stata equipaggiata con uno stage XY di Redshift per potere condurre misure di mapping su campioni con dimensioni di campionamento (scansione) 90 mm x 90mm e dimensione massima del campione pari a 200mm x 200mm x 30mm. Il sistema di alloggiamento del campione può essere modificato a seconda delle esigenze e delle necessità di misura;

• Spettrometro infrarosso a trasformata di Fourier spectrum3 di PerkinElmer: lo spectrum3 lavora a temperatura ambiente nell’intervallo 7800-400 cm^-1 con finestre in KBr in aria e nell’intervallo 450-30 cm^-1 con finestre in polietilene in flusso di azoto. Il sistema è dotato di due moduli aggiuntivi: uno per misure ATR-FTIR (Attenuated Total Reflectance Fourier-Transform Infrared) e il Seagull di Harrick per misure di riflettività speculare ad angolo variabile. È in dotazione un riferimento certificato di germanio per misure di riflettività infrarossa.

• Microscopio infrarosso Spotlight400 di PerkinElmer: lo spotlight400 consente di ottenere mappe chimiche infrarosse nel medio infrarosso sia in trasmissione che in riflessione a condizione ambiente usando come sorgente lo spectrum3. In modalità di non contatto il pixel può avere dimensione più piccola pari a 6.25 mm per lato, in modalità ATR fino a 1.25 mm per lato.

• Microscopio a forza atomica (in acquisizione).

The SMaC-Lab (Spectroscopy and Material Characterization Laboratory) at INAF-OAPA consists of the following instrumentation:

• PerkinElmer Lambda1050+ dual-beam spectrophotometer: the Lambda1050+ allows acquisition of transmission measurements in the 190-3300 nm range and operation with an integrating sphere (100 mm internal diameter) in Spectralon between 250-2500 nm to measure both transmission and reflectivity. The instrument operates at ambient temperature and pressure. In the visible range, 7-8 O.D. (Optical Depth) can be achieved using attenuators (available on both the reference beam and the beam incident on the sample) present in the system, whose use is software-controlled. The instrument is supplied with a Spectralon reference and aluminum reference mirrors for reflectivity measurements. The sample chamber for transmission measurements has been equipped with a Redshift XY stage to enable mapping measurements on samples with a scanning dimension of 90 mm x 90 mm and maximum sample size of 200 mm x 200 mm x 30 mm. The sample mounting system can be modified according to measurement requirements and needs.

• PerkinElmer Spectrum3 Fourier-transform infrared spectrometer: the Spectrum3 operates at ambient temperature in the range 7800-400 cm⁻¹ with KBr windows in air and in the range 450-30 cm⁻¹ with polyethylene windows under nitrogen purge. The system is equipped with two additional modules: one for ATR-FTIR (Attenuated Total Reflectance Fourier-Transform Infrared) measurements and the Harrick Seagull for variable-angle specular reflectivity measurements. A certified germanium reference is provided for infrared reflectivity measurements.

• PerkinElmer Spotlight400 infrared microscope: the Spotlight400 enables infrared chemical mapping in the mid-infrared range in both transmission and reflection modes at ambient conditions using the Spectrum3 as the source. In non-contact mode, the pixel can have a minimum dimension of 6.25 µm per side, in ATR mode down to 1.25 µm per side.

• Atomic force microscope (being acquired).

Papers:

Todaro, Michela, et al. “Wide-band transmission response of the filters for the X-IFU detector of the Athena Observatory.” International Conference on Space Optics—ICSO 2024. Vol. 13699. SPIE, 2025.

Fiorentino, Federico, et al. “Multitechnique characterization of bare and metal-coated carbon nanotube ultrathin pellicles.” International Conference on Space Optics—ICSO 2024. Vol. 13699. SPIE, 2025.

Barbera, Marco, et al. “Metal-coated carbon nanotube ultrathin pellicles: a high-performance solution for the optical blocking filters of the NASA MIDEX solar mission MUSE.” International Conference on Space Optics—ICSO 2024. Vol. 13699. SPIE, 2025.

Sciortino, Luisa, et al. “Multi-technique investigation of silicon nitride/aluminum membranes as optical blocking filters for high-energy space missions.” Journal of Astronomical Telescopes, Instruments, and Systems 10.1 (2024): 018002-018002.

Pramanik, Ashim, et al. “Charge-Selective Photocatalytic Degradation of Organic Dyes Driven by Naturally Occurring Halloysite Nanotubes.” Photochem 4.2 (2024): 151-162.